顯微球面反射率測(cè)量光譜儀

型號(hào)：iSpec-R100

iSpec-R100是專門針對(duì)全波長顯微球面光學(xué)元件表面反射率測(cè)量的最新產(chǎn)品，適用范圍廣，除了能夠快速且精確的測(cè)量各種光學(xué)元件及光學(xué)材料、球面與非球面產(chǎn)品（包括平面鏡片）的相對(duì)及絕對(duì)反射率，還可以選配增加光學(xué)元件的折射率進(jìn)行分析。

其測(cè)試原理：光源經(jīng)過平行光路準(zhǔn)直后，被分光裝置A反射并聚焦在測(cè)試樣品表面。測(cè)試樣品的反射光透過分光裝置B到達(dá)相機(jī)鏡頭，形成清晰的光斑用于對(duì)焦。分光裝置B收集反射光的光譜值，經(jīng)由電腦軟件分析后計(jì)算出測(cè)試樣品的反射率。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)：

使用高景深相機(jī)成像，實(shí)現(xiàn)被測(cè)區(qū)域可視化

配備電機(jī)實(shí)現(xiàn)軟件光斑聚焦調(diào)節(jié)

載物臺(tái)可在XY軸移動(dòng)和R方向旋轉(zhuǎn)

可進(jìn)行微小區(qū)域測(cè)量，支持多個(gè)物鏡，最小測(cè)量區(qū)域?yàn)?/span>60μm

具有曲線校正功能和單層光學(xué)膜厚計(jì)算

提供完整的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和報(bào)告功能

采用高性能光譜探測(cè)器和穩(wěn)定的測(cè)試光源

應(yīng)用案例：

球面、非球面及平面光學(xué)元器件的反射率測(cè)試

微小物體反射、反射顏色率測(cè)量

濾光片、有機(jī)材料、膜材料、鍍膜片的反射率檢測(cè)

眼鏡片的鍍膜測(cè)量

單層膜的厚度測(cè)定

顯微球面反射率測(cè)量光譜儀主要技術(shù)指標(biāo)：